庫爾特納米粒度計

產(chǎn)品簡介

庫爾特納米粒度計是一種電學粒子分析技術，與基于光散射的普通方法（如動態(tài)光散射（DLS）、納米粒子跟蹤分析（NTA）或納米級流式細胞術（nanoFCM））有著根本的不同。微流脈沖電阻庫爾特納米粒度儀采用MRPS技術，提供了傳統(tǒng)光學方法無法獲得的全新視角和新見解。MRPS在納米尺度上提供最直接的尺寸和濃度測量 - 與樣品多分散性或折射率無關的真實顆粒尺寸。

產(chǎn)品型號：

更新時間：2025-08-21

廠商性質：經(jīng)銷商

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產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

納米粒度儀

庫爾特電學納米粒度儀 DLS納米粒度檢測儀

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庫爾特納米粒度計通過單顆粒熒光對大小、濃度和貨物進行定量。

工作原理：

庫爾特納米粒度計

Spectradyne的ARCTM顆粒分析儀將MRPS與單顆粒熒光同步測量相結合，使各種新科學成為可能。

庫爾特納米粒度計儀器特點：

庫爾特納米粒度計

粒徑：50 nm 至 10 微米

濃度范圍：約 104 — 1012 顆粒/mL

激發(fā)激光波長：488nm

對單個顆粒進行計數(shù)和大小

高分辨率尺寸分布

最大顆粒物檢測率：約 10,000 個顆粒/秒

可以測量任何材料類型（透明和不透明，導電和絕緣）

臺面占地面積小

可選多種規(guī)格芯片：

庫爾特納米粒度計

應用領域：

庫爾特納米粒度計

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